B纵向冗余校验。

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在RFID数据传输中,为了确保数据的完整性,通常采用纵向冗余校验(B)来进行校验。纵向冗余校验是一种错误检测码,可以检测出在数据传输过程中可能出现的单比特错误、双比特错误等多种错误类型。

具体实现方式包括:将数据按照固定的大小分成若干组,对每组数据进行纵向求和,得到一个校验值,并将这个校验值添加到数据帧的末尾。接收端在接收到数据帧后,同样按照相同的方式计算校验值,如果计算得到的校验值与发送端发送的校验值不相同,则说明数据传输过程中发生了错误,需要重新发送数据帧。

以下是一个示例代码:

// 计算纵向冗余校验
uint8_t calcLongitudinalRedundancyCheck(uint8_t* data, uint8_t dataSize) {
  uint8_t lrc = 0;
  for (int i = 0; i < dataSize; i++) {
    lrc ^= data[i];
  }
  return lrc;
}

// 发送数据帧
void sendFrame(uint8_t* data, uint8_t dataSize) {
  uint8_t lrc = calcLongitudinalRedundancyCheck(data, dataSize);
  // 将校验值添加到数据帧末尾
  data[dataSize] = lrc;

  // 发送数据帧
  // ...
}

// 接收数据帧
void receiveFrame(uint8_t* data, uint8_t dataSize) {
  // 接收数据帧
  // ...

  // 计算接收到的数据帧的纵向冗余校验值
  uint8_t receivedLrc = calcLongitudinalRedundancyCheck(data, dataSize);

  // 检查校验值是否匹配
  if (receivedLrc != data[dataSize]) {
    // 校验失败,需要重新发送数据帧
    // ...
  }
}